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GLRZ-BX变压器绕组变形测试仪

企业:
价格:面议 / 台
更新:2010-01-27 16:13:27
产地:

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二、 主要技术特点

☆ 采集控制采用高速、高集成化微处理器。

☆ 笔记本电脑与仪器之间通信USB接口。

☆ 硬件机芯采用DDS专用数字高速扫频技术(美国),通过测试可以准确诊断出绕组发生扭曲、鼓包、移位、倾斜、匝间短路变形及相间接触短路等故障。

☆ 高分辨dB值测量,双通道16A/D(现场试验改变分接开关,即有明显输出变化)

☆ 信号输出幅度可以软件调节,最大幅度峰值±10V

☆ 计算机将检测结果生成电子文档(Word)

选用精密、高稳定元器件,对同一相重复试验,测量重复率在99.5%以上。

成品电路板,表面有特殊处理,具有抗水和有害气体污染。

☆ 笔记本电脑和测量仪器采用隔离电源供电,排除外界干扰。

仪器具有线性扫频测量和分段扫频测量双测量系统功能,兼容当前国内两种技术流派的测量模式

☆ 幅频特性符合国家关于幅频特性测试仪的技术指标。横坐标(频率)具有线性分度及对数分度两种,因此打印出的曲线可以是线性分度曲线也可以是对数分度曲线,用户可根据实际需要选用。

☆ 检测数据自动分析系统,横向比较AB C三相之间进行绕组相似性比较,其结果为:①一致性很好②一致性较好③一致性较差④一致性很差,纵向比较A-AB-BC-C调取原数据与当前数据同相之间进行绕组变形比较,其结果为:①正常绕组②轻度变形③中度变形④严重变形④。

☆ 自动生成Word电子文档,供保存和打印。

☆ 该仪器完全满足电力标准DL/T9112004《电力变压器绕组变形的频率响应分析法》的技术条件。

 

 

 

 

三、 主要技术参数

3.1 扫描方式:

仪器具备线性扫频测量和分段扫频测量双测量系统

 

1)线性扫描分布

扫频测量范围:(1kHz)-(2MHz)2000扫频点、分辨率为1kHz

 

2)分段扫频测量分布

扫频测量范围:(0.5kHz)-(1MHz)2000扫频点;

(0.5kHz)-(10kHz)      分辨率为0.02kHz

(10kHz)-(100kHz)      分辨率为0.2kHz

(100kHz)-(500kHz)     分辨率为1kHz

(500kHz)-(1000kHz)    分辨率为1kHz

 

3.2 其他技术参数:

◇ 幅度测量范围: (-100dB)–(+20dB)

◇ 幅度测量精度:   0.1dB

◇ 扫描频率精度:  小于0.01%

◇ 信号输入阻抗: 1MΩ

信号输出阻抗: 50Ω

◇ 同相测试重复率:99.5%

◇测量仪器尺寸(长宽高)345X250X120(mm)

◇仪器铝合金包装箱尺寸(长宽高)425X335X215(mm)

◇仪器附件铝合金箱尺寸(长宽高)425X335X150(mm)

◇总体重量:10Kg

主营GLRZ-BX变压器绕组变形测试仪;

坚持以“诚信为本、质量第一、价格合理”的经营理念,坚持“客户第一”的原则为广大客户提供 优质的服务。热诚欢迎各界朋友前来洽谈业务!

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